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电子产品可靠性与环境试验
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电子产品可靠性与环境试验
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
JST
基本信息
主办单位:工业和信息化部电子第五研究所
英文名称:Electronic Product Reliability and Environmental Testing
出版地区:广东省广州市
创刊时间:1980
国际刊号ISSN:1672-5468
国内刊号CN:44-1412/TN
语种:中文;
出版信息
邮发代号:
邮政编码:511370
出版周期:双月
开本:大16开
下单时间:1-3个月
全年订价:160.00
起订时间:2024年
学术信息
复合影响因子:0.548
综合影响因子:0.337
出版文献量:5155篇
总下载次数:686899
总被引次数:13377
期刊收录:
知网收录(中),维普收录(中),万方收录(中),上海图书馆馆藏,国家图书馆馆藏
期刊荣誉:
中国期刊全文数据库(CJFD),Caj-cd规范获奖期刊,中国优秀期刊遴选数据库,中国学术期刊(光盘版)全文收录期刊
主要栏目:
自动化技术及设备,计算机科学与技术,计量与测试技术,可靠性与环境适应性理论研究,可靠性与环境试验技术及评价,仿真建模与分析,软件可靠性与评测技术,可靠性设计与工艺控制,电子,电路设计与应用等
学术统计
学术评价

期刊年度出版概况

年度总文献量

1020 30
注:年度总文献量的统计不包含资讯类文献,如致谢、稿约、启事、勘误等

年度基金资助文献量

1020 30
注:

比率 = 当年基金资助文献量 / 当年发文量 * 100% 当年发文量的统计不包含资讯类文献,如致谢、稿约、启事、勘误等


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